File:AFMimageRoughGlass20x20.png
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AFMimageRoughGlass20x20.png （401 × 326 像素，檔案大細：187 KB ，MIME類型：image/png）
| 描述 |
Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM used was the Veeco di CP-II, scanned in contact mode. Constructed at the Nanorobotics Laboratory at Carnegie Mellon University (http://nanolab.me.cmu.edu). |
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| 日期 | |||
| 來源 | http://en.wikipedia.org/w/index.php?title=File:AFMimageRoughGlass20x20.png&oldid=78162444 | ||
| 作者 | Chych | ||
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檔案歷史
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| 日期／時間 | 縮圖 | 尺寸 | 用戶 | 註解 | |
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| 現時 | 2009年2月19號 (四) 17:43 | | 401 × 326（187 KB） | Linforest | {{Information |Description=Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM |
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